Publikationen - Verschiedenes

Micro-Ellipso-Height-Profilometry
K. Leonhardt, H.-J. Jordan and H.J. Tiziani, Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart, Jan. 1991, Optics Communications,
Vol 80 No 3,4, Seite 205.

Thema: Mikrotriangulation (Mikroprofilometrie) mit Kompensation der Einflüsse lokaler Oberflächensteigungen, in einem Strahlengang kombiniert mit Mikro-Ellipsometrie.

Pub-1991_MEHP.pdf (315,4 KiB)

Contactless resistivity measurements on small platelets

Wolfgang Bauhofer and Hans-Joachim Jordan, Max-Planck-Institut für Festkörperforschung, Stuttgart, 1982, J. Phys. E: Sci. Instrum., Vol. 15, Seite 419.

Themen:

  • Ebenfalls berührungslose Messtechnik, aber nicht optisch.
  • Berührungslose elektrische Leitfähigkeitsmessung an kleinen, luftempfindlichen Kristallen.

Pub-1982_CRM.pdf (151,7 KiB)